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VIEW BenchMark 250影像测量仪
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米需高分辨率光栅尺) Z 精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(E1=(1.2+5L/1000)微米TTL激光和5倍镜头)英制单位公制单位测量范围12" X6"X6"300x150x150毫米尺寸28.3" X30.5"X38.3"720x775X873毫米负载25kg台面分辨率0.5um光学双重放
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2024-10-15 |
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VIEW Benchmark XLT 大行程非接触式计量系统
QVI 旗下 VIEW Benchmark XLT是一款稳定可靠的大行程非接触式计量系统。XLT拥有从900毫米X1500毫米到1500毫米X2000毫米的延伸行程范围，可以测量大面积组件和多个小组件的组合群体。好的光学,照明,以及图像处理功能使XLT成为好的计量系统。移动桥式设计功能为取放产品提供了一个开放式工作区域.先某进的图像处理功能，确保
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2024-10-14 |
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VIEW Benchmark 624大容量运输三轴式测量系统
VIEW Benchmark 624是QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.VIEW Benchmark 624的移动桥式结构和光学可使被测组件某始某终保持静止状态X,Y,Z行程(mm)：624 x 624 x 150，0.5 μm 选项：624 x 624 x 200X,Y,Z光栅尺分辨率：0.5 μm，选项： 0.1μm工作台驱动系统：直流伺服马达XYZ,单一Y轴驱动和Y轴光栅尺双Y-轴驱动及
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2024-10-14 |
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VIEW Pinnacle+ Plus好精度的尺寸测量系统
Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.好的线性马达控制技术造就了运行速度快,可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。特征：X,Y,Z 行程 (毫米)：250 x 150 x 50X,Y,Z光栅尺分辨率：XY - 0.05μm,零膨胀材料
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2024-10-14 |
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VIEW BenchMark 450影像测量仪
BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公制单位测量范围18" X18"X6"450x450x150毫米尺寸48" X45"X67"1210x1140X1700毫米负载能力65千克台面分辨率0.5微米光学双重放大 (物镜 X)低0.81.02.55.010.025.0高3.24.010.020
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2024-10-14 |
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